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       統(tǒng)計過程控制（SPC）培訓(xùn)

基礎(chǔ)知識

變差及其來源

什么是變差

提問及回答老師問題

變差之主要來源

均方根定律

變差與正態(tài)分布

正態(tài)分布之特點與判定方法

普通原因與特殊原因

什么是產(chǎn)生變差的普通原因

什么是產(chǎn)生變差的特殊原因

普通原因與特殊原因之判定方法

練習(xí):5M與兩類原因之關(guān)聯(lián)

確定過程控制模式

兩類過程模式

傳統(tǒng)制造模式之特點與局限

提問及回答老師問題

預(yù)防為主的SPC模式

SPC改善循環(huán)

4類過程的識別與轉(zhuǎn)換

SPC應(yīng)用循環(huán)-AMI

討論-我們的過程模式及改善方向

過程失控判定

知識準(zhǔn)備

基本統(tǒng)計概念

提問及回答老師問題

正態(tài)分布與控制圖

控制圖:兩大類與兩階段

常規(guī)控制圖

常規(guī)控制圖選用

常規(guī)控制圖制作與應(yīng)用

常規(guī)控制圖判異法則

練習(xí):X-R;X-MR,P圖

非常規(guī)控制圖

非常規(guī)控制圖介紹

提問及回答老師問題

非常規(guī)控制圖應(yīng)用時機

非常規(guī)控制圖制作與應(yīng)用(結(jié)合企業(yè)實際選講)

練習(xí):PRE-CONTROL

過程能力分析

過程能力分析之常用指標(biāo)

CP/CPK

提問及回答老師問題

PP/PPK

CM/CMK

過程能力與PPM之換算

過程能力與西格瑪水平

過程能力與PPM

練習(xí):CPK計算

過程能力改善

建立過程失控經(jīng)驗庫

控制圖日志

(非)常規(guī)控制圖失控之癥狀與原因

討論:癥狀與原因

提高過程能力

CP很高但CPK較低時之改善方向

提問及回答老師問題

CP值很低時的改善方向

應(yīng)用過程中可能出現(xiàn)的問題及解決途徑